2012年 フォーラム


                  
2012年度 第21回 日本NCSLI技術フォーラム
【 報 告 】
 
  2012年11月9日(金)東京都大田区産業プラザPiOにて、第21回日本NCSLI技術フォーラムが開催されました。

本年度は、計測標準フォーラム第10回講演会として、NMIJ計量標準セミナーおよび計測標準フォーラムポスターセッションと同時に催し、盛況なイベントになりました。日本NCSLI技術フォーラムは4Fコンベンションホール鶯で7つの講演と1F大展示ホールで展示会を行い、多くの方々が有意義な交流および情報交換をされました。

 本年度は計測標準フォーラム全体で300名を超す参加者があり、計量・計測分野と本フォーラムへの期待と関心の高さが伺えました。今回も講演者、参加者、また多くの運営協力者の皆様のご協力にて成功裡に終えることができましたことをこの場を借りて御礼申し上げます。

 
日本NCSLI 講 演(1)日本NCSLI 講 演(2)
日本NCSLI 講 演(3)質疑応答の様子
発表者及びNCSLI-J 運営スタッフ展示会 の 様子
受付 の 様子懇親会 の 様子
  
 
【 講 演 題 目 】

 
[1] -30℃〜100℃における放射温度計の輝度温度による校正
・・・日本電気計器検定所

[2] スキャナを使用したマルチメータの自動校正
・・・(株)サンジェム

[3] 計測用マイクロホンのカプラ校正と静電アクチュエータによる校正
・・・ブリュエル・ケアー
[4] 大容量測定装置の妥当性確認
― 標準キャパシタ100 μFおよび1 mFの英国NPLとの相互比較 ―
・・・(株)村田製作所

[5] 計量標準の同等性による経済効果
・・・(独)産業技術総合研究所

[6] ガラス電極式水素イオン濃度検出器(pH電極)の校正と不確かさ
・・・(一財)日本品質保証機構

[7] 技術交流を目的とした高抵抗(1GΩ、10GΩ)巡回比較測定
・・・アズビル(株)

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